IPXXD試驗(yàn)探針主要用于電氣設(shè)備外殼防護(hù)等級(jí)的測試，以檢驗(yàn)設(shè)備外殼對特定尺寸的外來物體侵入的防護(hù)能力。其應(yīng)用如下：

　　電子設(shè)備領(lǐng)域

　　? 可對小型電子產(chǎn)品如智能手表、藍(lán)牙耳機(jī)等進(jìn)行測試。這些設(shè)備通常有許多細(xì)小的孔或縫隙，如充電接口、揚(yáng)聲器孔等。使用IPXXD試驗(yàn)探針模擬直徑為1mm的物體，檢測這些部位能否防止外界細(xì)小物體侵入，避免因異物進(jìn)入造成短路或損壞內(nèi)部元件。

　　IPXXD試驗(yàn)探針的主要技術(shù)參數(shù)：

　　1、探棒長度：100mm

　　2、探棒直徑：1mm

　　3、檔球直徑：35mm

　　4、手柄直徑：10mm

　　5、手柄長度：100mm

　　6、根據(jù)GB/T4208-2017表6（位特征數(shù)字4/5/6）。

　　電氣設(shè)備領(lǐng)域

　　? 對于一些有高精度要求的電氣設(shè)備，如微型繼電器、小型變壓器等，IPXXD試驗(yàn)探針可用于測試其外殼的防護(hù)性能。確保在有灰塵、金屬碎屑等細(xì)小顆粒的環(huán)境中使用時(shí)，這些異物不會(huì)進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部，影響其正常運(yùn)行和使用壽命。

　　照明設(shè)備領(lǐng)域

　　? 針對一些特殊照明設(shè)備，如礦用燈具、具等，需要具備較高的防護(hù)等級(jí)。IPXXD試驗(yàn)探針可用于檢測燈具外殼的密封性和防護(hù)能力，防止在惡劣環(huán)境下，如礦井中的粉塵、水下的沙粒等細(xì)小物體進(jìn)入燈具內(nèi)部，影響照明效果或引發(fā)安全事故。

　　航空航天領(lǐng)域

　　? 航空航天設(shè)備中的一些電子部件和儀器，對防護(hù)性能要求極高。IPXXD試驗(yàn)探針可用于模擬太空中的微小顆�；蛟陲w機(jī)維護(hù)過程中可能出現(xiàn)的細(xì)小異物，檢測這些設(shè)備外殼的防護(hù)能力，確保設(shè)備在復(fù)雜的太空環(huán)境或飛機(jī)運(yùn)行環(huán)境中能正常工作，保障飛行安全。